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| 德国Fischerscope-X 射线镀层测厚仪 |
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Fischerscope X-RAY XULM-XYm
（订货号603-132）
硬件
测量箱
Fischerscope X-REY XULM-XYm 是采用根据技术标准DIN50987，ISO3497和ASTM B568 的X-射线荧光测试方法；
原始射线从上至下；
微聚焦X-射线管高压设定可调节至最佳的应用：50KV，40KV或30KV；
视准器组：圆直径为0.1/0.2；正方形0.05×0.05mm；长方形0.03×0.2mm
测量箱外部尺寸：（高×宽×深）480mm×375mm×580mm,重量大约35㎏；
带槽箱体的内部尺寸：（高×宽×深）240mm×360mm×460mm，带向上回转箱门；
试件查看用标准的彩色摄像机；
测量开始/结束按钮，及LED状态指示灯与测试箱集成在一体。 控制计算机
奔腾或类似的微处理器的个人计算机FMC-XPENT带Windows?95,视频混合器板，硬盘，CD-ROM驱动器，3?英寸的软盘驱动器和鼠标。
17英寸高分辨能力的数据监视器DM1用于画中画试件查看和数据显示，在附加费用的基础上可选择19英寸监视器DM2。
XK键盘 FTM软件
适用于Windows?98或选择适用于Windows?NT的真Win32位程序带在线帮助功能。
频谱库中允许创建从元素钛至铀的任何一种新的应用。
能通过“应用工具箱”（由一个带所有应用参数的软盘和校准标准准块组成）使应用的校准简单化
画中画测试件查看和数据显示，带快速移动焦距功能放大试件图像：计算机生成的刻度化的瞄准十字星，并有X-射线光束大小指示器（光束的大小取决于测量的距离）
图形化的用户界面，测试件的图像显示可插入于测试报告中
测量模式用于：
—单、双及三层镀层系统
—双元及三元合金镀层的分析和厚度测量
—双层镀层，其中合金镀层在外层或在中间层的厚度测量和分析（两层的厚度和合金成分都能被测量）
能分析多达四种的金属成分的合金和电镀液中金属离子含量；
可编程的应用项图标，用于快速应用项选择
完整的统计功能，SPC图，标准的概率图和矩形图评估
报告生成，数据输出
语言可选择：英语、德语、法语、意大利语、西班牙语、及中文
菜单中的某些选择可授权使用
注：基础WinFTM软件版本不允许创建新的应用，所要求的应用不得不在定货时明确。当校准标准块与仪器一起定购时，可在交货前预先创建应用。若没有定购校准标准块，则只可使用已预装的无需标准块的测量应用。
可选择的Super WinFTM软件（订货号602-950）提供了以下的附加功能：
可随意创建测量应用
可把每种测量模式的测量范围设定为想要的理论上的测量精度
快速的频谱分析以决定合金成分
（*）Fischer 公司不保证无需标准块测量情况下的测量精确性
测试点大小尺寸
| 视准器组Ⅰ |
测试点大小 |
| Φ0.1mm |
Ca. Φ0.16mm |
| Φ0.2mm |
Ca. Φ0.30mm |
| 0.05×0.05mm |
Ca. 0.10×0.10mm |
| 0.03×0.2mm |
Ca. 0.08×0.3mm | 条件
产品原产地：德国
交货方式：C.I.P.温州（含税）
交货期：在收到30%定金后的12-14周
付款方式：电汇，30%定金，付清70%余款后发货
产品保用期：12个月
报价有效期：30天
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公司参考价格： 点击此处查看价格表 人民币 (完税价)
网上报价仅做参考，由于市场和原材料价格的波动，价格以电话咨询为准！ |
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