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| 德国FISCHER-X-射线镀层测厚及金属分析仪 |
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Fischerscope X-RAY System XDL是采用全新数学计算方法来进行镀层厚度的计算，在加强的软件功能之下，简化了测量比较复杂镀层的程序，甚至可以在不需要标准片之下，一样可以测量。它还采用独一的焦距距离计算办法（DCM），操作员现在可以随时改变焦距测量，对一些形状复杂的工件尤其方便。 Fischerscope X-RAY System XDL是采用技术标准ASTM B568，DIN 6098/，ISO3497的X-射线荧光分析法来进行测量，不但可以测量金属层的厚度及金属之间的比重金属物料分析， Fischerscope X-RAY System XDL的功能包括：特大及缺口式的测量箱，向下投射式X线射，方便对位测量，软件在视窗95下操作，可在同一屏幕清楚显示测量读数及工件的位置。 Fischerscope X-RAY System XDL的设计是专门测量金属镀层厚度的仪器，它是采用现时最新的软件及硬件技术而制成，计算方面用了最新的FP（Fundamental Parameter）、DCM (Distenco Controlled Measurement)及强大的电脑功能，X-RAY XDL已经可以在不使用标准片调校仪器之下，一样可以进行测量。
应用方面:
● 单性金属镀层厚度测量，例如：Zn；Cr；Cu；Ag；Au；Sn等等
● 合金（两样金属元素）镀层厚度测量，例如：Snpb；ZnNi；及Nip（无电浸线）在Fe上等等
● 合金（三样金属元素）镀层厚度测量，例如：AuCuCd在Ni上等等
● 双镀层厚度测量，例如：Au/Ni在Cu上；Cr/Ni在Cu上；Au/Ag在Ni上；Sn/Cu在黄铜上等等
● 双镀层厚度测量（其中一层是合金层），例如：SnPb/Ni或Au/PdNi在青铜上等等
● 三镀层，例如：Cr/Ni/Cu在塑胶或在铁上
● 金属成份分析，最多可以分析四种金属元素 规格
● 主机---高650 mm，宽570 mm，深740 mm；重55kg
● 测量箱---高300 mm，宽460 mm，深500 mm
● 圆形准直器---Ф0.3 mm
● X-射线向下投射
● 主机上有直接测量键
● 可控制X-射线管高压，最高为50KV
● 黑白或彩色显示测量位置，焦距距离计算办法（DCM）最大焦距调节为85 mm
● 外置式电脑（Pentium或同级）及VGA彩色屏幕
特点:
● 测量厚度及金属分析
● 缺口式的测量箱，可以测量比较大平面的工件
● 使用DCM方法，不用调校X-射线管的距离也可测量用户只需要调校样品的焦距便可以测量 |
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公司参考价格： 287100.00 人民币 (完税价)
网上报价仅做参考，由于市场和原材料价格的波动，价格以电话咨询为准！ |
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