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| Fischerscope X-RAYXDL-B技术规格表 |
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硬件 测量箱
● Fischerscope X-RAY XDL是采用根据技术标准DIN50987，ISO3497和ASTM B568的X-射线荧光测试方法：
● 原始射线从上至下：
● X-射线管高压设定可调节至最佳的应用：50kV,40kV或30kV：
● 单个0.3mm直径（12mils）的标准视准器，在附加费用的基础上可选择0.05*0.3mm(2*12mil)带槽视准器：或直径0.1mm；或直径0.2mm；或0.4*0.4mm方形。
● 测量箱外部尺寸：（高*宽*深）650mm*570mm*740mm(26″*22″*29″)，重量大约为105kg(1201bs)
● 带槽箱体的内部尺寸：（高*宽*深）300mm*460mm*500mm(12″*18″*20″)带向上回转箱门
● 嵌入式固定的测试件支承板，需要时可移去以适用于大件的超出尺寸的测试工件。
● 从X-射线头部（X-射线管，成比例的反射接收器及视准器）至测试件平面支承板有三种可选择的固定距离。需要的设定距离（见背面）必须在定货时明确（标准设定：中间位置）
● 试件查看用彩色摄象机
● 带有LED状态指示灯的测量开始/结束按钮与测试箱集成在一体
控制计算机
● 奔腾或类似的微处理器的个人计算机FMC-XPENT带Windows98(WindowsNT可选)，视频混合器板，硬盘，CD-ROM驱动器，31/2英寸的软盘驱动器和鼠标。
● 17英寸高分辨能力的数据监视器DM1用于画中画试件查看和数据显示，在附加费用的基础上可选择19英寸监视器DM2。
● XK键盘
FTM软件
● 适用于Windows98或WindowsNT的真Win32 位程序带在线帮助功能。
● 频谱库中允许创建从元素钛至铀的任何一种新的产品。
● 能通过“应用工具箱”（由一个带所有应用参数的软盘和校准标准块组成）使应用的校准简单化
● 画中画测试件查看和数据显示，带快速移动焦距功能放大试件图象；计算机生成的刻度化的瞄准十字星，并有X-射线光束大小指示器（光束的大小取决于测量的距离，见背面）
● 图形化的用户界面，测试件的图象显示可插入于测试报告中
● 对试件与视准器之间的距离进行视觉控制的校正（DCM方法）范围可达80mm(3.2″)
● 测量模式用于：
-单、双及三层镀层系统 -双元及三元合金镀层的分析和厚度测量 -双层镀层，其中合金镀层在外层或在中间层的厚度测量和分析（两层的厚度和合金成分都能被测量）
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公司参考价格： 点击此处查看价格表 人民币 (完税价)
网上报价仅做参考，由于市场和原材料价格的波动，价格以电话咨询为准！ |
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