MCH系列电脑膜层测厚仪

    MCH系列电脑膜层测厚仪是高新技术的结晶。它采用微机技术,精度高,数字显示,示值稳定,功耗低,操作方便,无校正旋钮,单探头全量程测量,体积小重量轻。具有存贮、读书、统计、低电压指示、上下限报警功能。其性能达到当代国际同类产品的先进水平。
    本仪器采用磁性测厚法,方便无损地测量铁磁材料上非磁性涂层的厚度,如钢铁表面上的锌、铜、铬镀层,或油漆、搪瓷、玻璃钢、喷塑、沥青等涂层的厚度,该仪器广泛用语机械、汽车、造船、石油、化工、电镀、喷涂,搪瓷等行业。是铁磁材料保护层质量检测的必备工具。
主要技术参数:
MCH-2001(J)MCH-2002(J)(高精度)MCH-2003(J)(宽量程)MCH-2004(J)
测量范围(um)0-50000-450050-100000-3000
测量误差<3%+1um<3%+0.5um<3%+10um<3%+1um
显示方式7位液晶数字显示



测量单探头全量程测量
存贮可存入测量数据800个
读出已存入测量数据
统计显示已存数据的最小值、均值、最大值
电源5#干电池3节
功耗最大功耗100mw
外形尺寸134 x 72 x 31 mm
重量150G
使用环境温度:-10℃+40    相对湿度:不大于90%
备注:可配专检测内防腐的伸缩式长柄探头(1米左右)

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