射线透照几何条件的规范设计

      严格执行标准,是保证检测结果可靠性,控制产品质量,保证在役设备安全运行的前提.对于X射线检测,除通常考核底片的质量,包括黑度,清晰度,灵敏度等外,对投照的几何条件,还应进一步规范,如对由小透照长度L3和底片的有效评定长度Leff等.有效评定长度随透照厚度,焦距,焦点大小,环形工件的曲率半径和厚度的不同而变化,而非固定值.在GB 3323-87与JB 4730-94标准中,透照厚度差是严格控制的,是控制L3和Leff的制约条件.在射线质量管理中,L3和Leff是计算透照比例的重要参数,在实际检测中,采用确定一次透照长度,有效评定长度和一周透照次数来控制.若超过了规定值,则厚度差就失去了控制,影响失真和黑度差增大,满足不了检测质量的要求.平板焊缝透照计算比较简单,而环形工件的L3与Leff值计算就比较复杂.

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